| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria de los datos | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | Dispositivo D del impacto |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria de los datos | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | Dispositivo D del impacto |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Pantalla | interfaz de la pantalla táctil de 8 pulgadas |
|---|---|
| Torrecilla auto | penetrador y la lente objetiva automáticamente cambiar el uno al otro |
| Memoria | ahorrado en el formato de EXCEL en disco del USB |
| Fuerza de la prueba | 10GF (0.098N), 25GF (0.245N), 50GF (0.49N), 100GF (0.98N), 200GF (1.96N), 300GF (2.94N), 500GF (4.9N |
| Estándar de la reunión | GB/T4340.2, ASTM E92 |
| Color | Plata blanca |
|---|---|
| Principio | Dinámico |
| Gama de prueba | 0~20HW |
| Exactitud | 0,5 HW DE HW (5 - 17) |
| Peso | 0.5kg |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Color | Plata blanca |
|---|---|
| Principio | Dinámico |
| Gama de prueba | 0~20HW |
| Exactitud | 0,5 HW DE HW (5 - 17) |
| Peso | 0.5kg |
| Pantalla | interfaz de la pantalla táctil de 8 pulgadas |
|---|---|
| Torrecilla auto | penetrador y la lente objetiva automáticamente cambiar el uno al otro |
| 3) Mecanismo de elevación | Carril cruzado óptico |
| Fuerza de la prueba | 10GF (0.098N), 25GF (0.245N), 50GF (0.49N), 100GF (0.98N), 200GF (1.96N), 300GF (2.94N), 500GF (4.9N |
| Estándar de la reunión | GB/T4340.2, ASTM E92 |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Color | Gris |
|---|---|
| Principio | Método de UCI (impedancia ultrasónica del contacto) |
| Estándar | 、 ASTM A1038-2005 DE JBT 9377-2010 |
| Calibración | Calibración de Slef |
| Memoria | 50 sistemas de almacenamiento de datos -- los datos incluyen la información del tiempo |