| Material | ABS |
|---|---|
| Color | Blanco |
| Parámetros | Ra, Rz, Rq, Rt, Rp, rv, R3z, R3y, Rz (JIS), Rs, Rsk, Rsm, Rku, Rmr, relais (JIS), Rmax, RPC, Rk, Rpk |
| Estándares | ISO, ESTRUENDO, ANSI, JIS |
| Exhibición | 3,5 pulgadas de color de pantalla TFT táctil del gráfico |
| Material | ABS |
|---|---|
| Color | blanco |
| Parámetros | Ra, Rz, Rq, Rt, Rp, rv, R3z, R3y, Rz (JIS), Rs, Rsk, Rsm, Rku, Rmr, relais (JIS), Rmax, RPC, Rk, Rpk |
| Estándares | ISO, ESTRUENDO, ANSI, JIS |
| exhibición | 3,5 pulgadas de color de pantalla TFT táctil del gráfico |
| Material | ABS |
|---|---|
| Color | blanco |
| Parámetros | Ra, Rz, Rq, Rt, Rp, rv, R3z, R3y, Rz (JIS), Rs, Rsk, Rsm, Rku, Rmr, relais (JIS), Rmax, RPC, Rk, Rpk |
| Estándares | ISO, ESTRUENDO, ANSI, JIS |
| exhibición | 3,5 pulgadas de color de pantalla TFT táctil del gráfico |
| Color | blanco |
|---|---|
| Parámetros | Ra, Rz, Rq, Rt, Rp, rv, R3z, R3y, Rz (JIS), Rs, Rsk, Rsm, Rku, Rmr, relais (JIS), Rmax, RPC, Rk, Rpk |
| Estándares | ISO, ESTRUENDO, ANSI, JIS |
| exhibición | 3,5 pulgadas de color de pantalla TFT táctil del gráfico |
| Batería | Batería recargable y un circuito de control de carga, alta capacidad de la ión de litio incorporada |
| Escala de la dureza | HS, ALTO VOLTAJE, HB |
|---|---|
| Gama | 0~100HBa, cantidad a 25~150HBW |
| Palabras claves | Probador portátil de la dureza para el aluminio |
| Resolución | 0.1HBa |
| Control máximo | incluyó |
| Color | Gris |
|---|---|
| Principio | Ultrasónico |
| Estándar | 、 ASTM A1038-2005 DE JBT 9377-2010 |
| Calibración | Calibración de Slef |
| Memoria | Para ahorrar 1000 grupos de datos de medición y 20 grupos de datos de la calibración |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria de los datos | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | Dispositivo D del impacto |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria de los datos | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | Dispositivo D del impacto |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| elementos de la aleación | 1. Elementos del azufre (s) a (u) de uranio con los números atómicos que se extienden de 16 a 92 2, |
|---|---|
| Fuente de la excitación | tubo de radiografía micro 45KV/200uA-Integrated y fuente de alto voltaje con el extremo de plata/del |
| Detector | Detector de la radiografía de SI-PIN |
| Exhibición | 1. Grado industrial semi transparente y semi reflexivo modificado para requisitos particulares de la |
| Fichero | El email envía, transmisión síncrona de Bluetooth, transmisión síncrona del software |