| Gama del tubo | Φ400-Φ1100mm |
|---|---|
| Voltaje del tubo | 100-250KV |
| Regulador | Plc |
| Pnetration | 40m m |
| Tubo | Tubo de cerámica |
| elementos de la aleación | 1. Elementos del azufre (s) a (u) de uranio con los números atómicos que se extienden de 16 a 92 2, |
|---|---|
| Fuente de la excitación | tubo de radiografía micro 45KV/200uA-Integrated y fuente de alto voltaje con el extremo de plata/del |
| Detector | Detector de la radiografía de SI-PIN |
| Exhibición | 1. Grado industrial semi transparente y semi reflexivo modificado para requisitos particulares de la |
| Fichero | El email envía, transmisión síncrona de Bluetooth, transmisión síncrona del software |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| color | Negro |
|---|---|
| LCD | matriz 128×64 con el contraluz |
| Escalas de la dureza | ALTO VOLTAJE, HB, HRC, HRB, HRA, HS |
| Memoria | datos de 600 grupos |
| Salida de datos | Software de la PC disponible e interfaz del USB 2,0 |
| Detalles de empaquetado | paquete estándar de la exportación |
|---|---|
| Tiempo de entrega | 1-4days |
| Condiciones de pago | T / T, Paypal, Western Union |
| Capacidad de la fuente | 500pcs por mes |
| Lugar de origen | pekín |
| color | Negro |
|---|---|
| Materiales | Plástico duro |
| Memoria | 600 grupos de los datos |
| Dispositivo del impacto | 7 tipos opcionales |
| Batería | Batería li-ion de Rechargable |
| Escalas de la dureza | ALTO VOLTAJE, HB, HRC HRB, HRA, HS) |
|---|---|
| Exhibición | Exhibición del LCD de 128×32matrix |
| Memoria | 1000 sistemas de datos y de tiempo |
| Batería | Batería li-ion recargable sin memorability |
| Poder de batería | Período de trabajo continuo del poder: Aproximadamente 100 h |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | D |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |
| Escala de la dureza | HL, HB, HRB, HRC, HRA, ALTO VOLTAJE, HS |
|---|---|
| Memoria de los datos | 48~600 grupos (tiempos del impacto: 32~1) |
| Gama de medición | HLD (170~960) |
| Dispositivo estándar del impacto | Dispositivo D del impacto |
| Dispositivos de impacto opcionales | CC/D+15/G/C/DL |